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Lock-in Thermography : Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials, De Otwin Breitenstein. Editorial Springer International Publishing Ag, Tapa Dura En Inglés
Lo que tienes que saber de este producto
- Volumen del libro: 1
- Tapa del libro: Dura
- Género: Ingeniería.
- Subgénero: Tecnología y ingeniería.
- Libro.
- Edad recomendada: de 0 años a 100 años.
- ISBN: 09783319998244.
Características del producto
Características principales
Título del libro | Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials |
|---|---|
Subtítulo del libro | Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials |
Serie | Springer Series in Advanced Microelectronics |
Autor | Otwin Breitenstein |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Springer International Publishing AG |
Edición del libro | Third Edition |
Es kit | No |
Tapa del libro | Dura |
Volumen del libro | 1 |
Otros
Con páginas para colorear | No |
|---|---|
Con realidad aumentada | No |
Género del libro | Ingeniería |
Subgéneros del libro | Tecnología y ingeniería |
Tipo de narración | Libro |
Con cremallera | No |
Edad mínima recomendada | 0 años |
Escrito en imprenta mayúscula | No |
ISBN | 09783319998244 |
Descripción
Aviso legal
• Edad recomendada: de 0 años a 100 años.